IEEE 2020 标准眩光测试卡——用于评估光学系统和成像系统中眩光（Flare）、雾罩眩光（Veiling Glare）及鬼影（Ghosting）

IEEE 2020 Flare Method A 眩光测试卡用于根据 IEEE 2020-2024 Flare Method A 标准 测试成像系统的眩光（Flare）性能，该标准是 ISO 18844 标准（Part C） 的一种变体。测试卡用于评估光学系统中由内部反射和散射引起的杂散光（flare）影响，从而验证镜头或成像模块的抗眩光能力。
本测试卡采用高精度 Mylar 光刻胶片(Photomask)制作，具备高光密度非反射黑色补丁，并通过透射式光源实现均匀照明，确保高对比度和低反射的测试环境。
需在全暗环境中配合透射式 LED 光源使用，以确保测量结果的有效性。

产品特性

· 满足 IEEE 2020-2024 Flare Method A 测试标准

· 采用 高精度 Mylar 光刻胶片 制作，透射性能稳定

· 高光密度黑色区域，抑制反射与杂散光

· 透射式设计，适配各类透射光源系统

· 可用于成像模组、镜头、光学相机系统的眩光测试

· 提供标准尺寸与定制尺寸版本

产品参数

应用领域

· 光学镜头抗眩光性能验证

· 摄像头成像模组 Flare 测试

· 医疗影像、车载摄像头、安防摄像头光学系统性能评估

· 图像质量分析系统（如 Imatest 图像质量分析软件 / CS-CIQT）配套使用