ImageMaster® PRO 10 Wafer工业型光学传递函数测量仪(镜头和晶圆专用)
德国全欧光学(TRIOPTICS)制造的ImageMaster® PRO 10 Wafer 以满足新一代晶圆级镜头在生产过程中的成像质量保证要求。
产品特点:
* 测量精度为0.8%轴上MTF和1.5%轴外MTF
* 每个样品的测量时间为1.3秒(2700 UPH)
* 晶圆弯曲度和高精度FFL(法兰焦距)测量
* 晶圆尺寸:最大8英寸/200mm(矩形或圆形)
* 倾斜校正功能(弯曲度补偿)
* 带有动态安装和晶圆旋转、移位调整工具,可实现轻松装载
* 测量可溯源至国际标准
* 可与洁净室兼容
产品型号及技术指标:
产品型号 |
ImageMaster®PRO 10 Wafer |
设备类型 |
台式设备 |
光路设置 |
无限-有限共轭 |
最大空间频率 | 400 lp/mm |
轴上MTF测量精度 | 0.8% MTF(高达350 lp/mm)① |
轴外MTF测量精度 | 1.5% MTF(高达350 lp/mm)① |
有效焦距测量精度 |
5μm/0.3% |
法兰焦距测量精度 |
4μm |
轴上测量时间 |
1.3s ② |
所有离轴曲线测量时间 |
1.3s ② |
样品吞吐量(每小时产出) |
2400 UPH ④ |
测量点 |
53(27个现场位置/摄像机②) |
尺寸(高×宽×深) |
1570mm × 1340mm × 810mm |
重量 |
240kg |
托盘尺寸 |
托盘 220mm×220mm |
样品架/托盘 |
三点运动安装托盘,具有经过认证的参考平面度 |
样品质量等级 |
4级 |
洁净室等级FS 209/ISO 14644-1 |
100 / ISO 5 |
光源 |
卤素光源(白色LED可选) |
滤光片 | 可见光(近红外可选)-尽可能所有滤光片-标准适光眼滤光片 |
ACM |
安装自准直仪 |
① 根据MTF峰值测量精度
② 取决于样品
④ 1个托盘包括148个样品/托盘更换时间5秒
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